微區(qū)探頭Ava-Probe-M
微區(qū)探頭Ava-Probe-M
Ava-Probe-M是專門針對(duì)微小區(qū)域(≤1mm)的反射率測(cè)試設(shè)計(jì)的,適用于表面平整,形狀規(guī)則的材料。探頭配合不同芯徑的光纖,可實(shí)現(xiàn)不同區(qū)域大小反射光譜的測(cè)量。使用過程中,可通過觀察窗,觀察確認(rèn)樣品的測(cè)量。
微區(qū)光譜測(cè)量結(jié)合顯微系統(tǒng)與光譜儀,能夠在微米級(jí)尺度上獲取樣品的光學(xué)特性。其典型應(yīng)用包括:
1. 工業(yè)材料檢測(cè)與器件性能優(yōu)化
· 納米材料表征:如金屬納米陣列的表面等離激元共振吸收分析,調(diào)控光電器件的響應(yīng)波長(zhǎng)
· 半導(dǎo)體材料研究:檢測(cè)晶圓表面微區(qū)反射光譜,評(píng)估材料能帶結(jié)構(gòu)及雜質(zhì)分布,提升器件性能。識(shí)別材料表面缺陷,測(cè)量鍍膜材料的反射率、厚度均勻性及缺陷分布,優(yōu)化薄膜工藝
· 光電探測(cè)器優(yōu)化:檢測(cè)表面等離激元器件的共振吸收光譜,調(diào)控納米結(jié)構(gòu)尺寸以增強(qiáng)光響應(yīng)性能;高Q值光纖諧振腔的反射譜測(cè)量
2. 環(huán)境與農(nóng)業(yè)監(jiān)測(cè)
· 土壤污染評(píng)估:通過測(cè)量作物葉片(如水稻)光譜,分析土壤重金屬(如Cd、As)含量,支持農(nóng)田環(huán)境治理
· 土壤有機(jī)質(zhì)分析:通過測(cè)量土壤光譜,分析預(yù)測(cè)干旱區(qū)荒地有機(jī)質(zhì)含量
· 作物健康監(jiān)測(cè):通過植物葉片光譜變化診斷重金屬脅迫或營養(yǎng)缺失,輔助精準(zhǔn)農(nóng)業(yè)
3. 生物醫(yī)學(xué)與生命科學(xué)
· 細(xì)胞及組織分析:在微米尺度下檢測(cè)生物樣本(如腫瘤組織)的反射光譜差異,輔助病理研究
· 藥物載體研究:分析藥物緩釋材料的微區(qū)光學(xué)特性,優(yōu)化載藥效率與釋放行為
技術(shù)數(shù)據(jù)
接口 | SMA905 |
光路 | 45°照明,垂直接收 |
空間分辨率 | φ50μm±5μm @FC-UVIR200 |
材質(zhì) | 鋁合金(陽極氧化黑) |
溫度/濕度范圍 | / |
外形尺寸/重量 | 95x95x125mm/1.05kg |